原子力显微镜

仪器名称：原子力显微镜

仪器型号：Cypher ES

仪器产家：牛津仪器

主要应用：主要用于陶瓷、单晶、薄膜等样品的表面形貌和微结构的表征以及对微结构的调控。

性能指标：

1.    工作模式：轻敲模式、接触模式、相位成像模式、横向力模式、磁场力显微技术(MFM)、压电响应模式(PFM)、静电力显微技术(EFM)；能够在液体或气体环境下进行测量。

2.    扫描器：X，Y，Z三轴分离；扫描范围：X，Y方向30 mm，Z方向5 mm。

3.    针尖电压：10 V；高压附件：可提高到150 V。

4.    温度范围：室温到250 ℃。

样品要求：

样品可以是聚合物、陶瓷、单晶或者薄膜。陶瓷、单晶样品应当预先抛光，并做好表面清理。样品大小一般不超过1 cm，厚度不超过1 cm。

仪器说明：

原子力显微镜（AFM）是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。扫描样品时，可获得作用力分布信息，从而以纳米级分辨率获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。

测试项目：形貌，力曲线，PFM的两种相位模式，写畴，扫描电压测电信号

测试案例：