仪器名称：X射线粉末衍射仪
仪器型号：SmartLab SE
仪器产家：日本理学
主要应用：主要用于固体材料的晶体结构表征和物相组成的确定，是日常测试中必备的仪器设备。
性能指标：
1. X-射线发生器：最大输出功率3 kW, 额定电流10~60 mA；额定电压20~60 kV，高压稳定度± 0.005%。
2. X-射线光管：陶瓷铜X射线光管2.2 kW，最小精焦斑尺寸0.4×12 mm2。
3. 安全连锁机构、剂量符合国标：£1.0 μSv/h(10 cm)。
4. 测角仪系统：配备三光学编码系统，包括θs轴、θd轴和光学编码驱动马达。扫描方式：θ/θ可联动或单动，角度最小步进1/10000 °。测角仪半径：不小于300 mm。测角仪扫描范围：﹣5 °~163 °（标准样品台）。
5. 标准样品台：水平样品台。高温样品台：RT~1500 ℃，含真空泵，可在大气、真空、惰性气体下使用。Z-轴自动可调样品台（选择项）：可变更范围：－10 mm~﹢2 mm。
6. 双光路系统，多层膜透镜。X-射线波长：Cu Ka。入射狭缝：0.01~7 mm，0.02 mm步进。散射狭缝：0.01~7 mm，0.02 mm步进。接收狭缝：0.01~7 mm，0.02 mm步进。
样品要求：
无毒；无挥发性；非液体，可为粉末、块状、薄膜样品。
1. 多晶粉末样品需研磨过，用手搓起来无明显颗粒感，越细测试效果越好，颗粒大小要求在0.1~10 μm之间，样品用量一般在50 mg以上。
2. 块状样品需表面平整光洁，尺寸大约2×2×0.2 cm以内。
3. 外延薄膜厚度在15～100 nm为佳。
测试项目：
1. 常规粉末样品广角：5~120°，小角：0.5~5°。
2. 常规测试速率：4 °/min、10 °/min、20 °/min；小角测试速率：1 °/min，0.5 °/min。
3. 薄膜样品可测θ~2θ，摇摆曲线，XRR，倒空间mapping，薄膜样品请标注测试面。
4. 高温XRD最高可测到1500 ℃。
5. 该测试只得到样品的XRD原始谱图，不包括对数据的处理和分析。
测试案例：
室温XRD测试结果
1500 ℃下高温XRD测试结果
XRR测试结果
φ面测试结果
仪器说明：
SmartLab SE型仪器X-射线衍射仪采用世界先进技术，利用X射线分析多晶材料的各种属性，是一台具备物相分析、薄膜分析、小角散射分析、高温相变等功能的综合性仪器。仪器要求配置能快速变换的聚焦、平行光、一维半导体阵列检测器等。仪器应具有自动调整光路系统、计算机控制狭缝系统、薄膜分析系统、变温系统、小角散射系统硬件等及数据分析软件等；全系统要求可以对系统光路或者附件进行光学识别，并提供专家系统辅助实验条件；探测器必须适合从低角度(0.3 °)到高角度的信号检测。